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存储器测试仪
日期：2010年12月22 来源：沈阳第一机床厂 关键字：机床
存储器测试仪基本上采用功能测试原理制成。为了实现功能测试，它由产生测试图案的专用计算机（微型机或小型机），加上接口电路、定时装置、I/O装置及电源等组成。
图案存储器是存储器测试仪的核心设备，用以产生测试图案和标准信息。机床目前，产生测试图案的方法主要有：由专门的图案生成系统产生，存人测试仪存储器内，然后输给被测存储器作为测试码；由测试仪随机产生测试图案，并自动控制测试数据的循环；由测试仪软件自动产生测试图案，并控制对存储器进行测试。
测试图案发生器是由测试台内的专月小型计算机（或微型计算机）构成。机床它产生的测试图案存人自己的存储器中，机床然后由控制处理器控制循环使用。接口电路包括将输入图案变为输入波形的“波形选择器”，以及为实现输入、输出信息电平转换的驱动器及其连接线路。
定时装置用以产生各种输入波形的多路相脉冲、先通脉冲等时序信号。
在选择或评价一台存储器测试仪时，主要考虑下列几项指标。
1)测试仪的频率测试仪的频率选用133MHz，或100MHz、66MHz、33MHz，还是25MHz．应当根据所需完成测试的时间来确定。例如，对66MHz PC100随机动态存储器 ( SDRAM)的全面综合测试，若采用快速测试仪需要128，机床若采用较慢速度测试仪则要花费Zmln。机床测试仪精度主要依赖于基准测试仪的频率。
2)支持多重平台测试仪能否用于对各种不同DRAM测试'大多数测试仪不可能仅采用一个测试单元就能同时支持EDO DRAM和PC133 SDRAM DIMM测试。机床应当了解测试仪的兼容性，从而不必购买多个测试仪或再花费巨资将现有测试仪升级来满足各种不同类型存储器的测试需要。
3)配件／适配器丁解适配器的使用范围，以确保满足各种不同类型存储器的测试需要，如Sun Sparc(200)、l0/20/Ultra、PCMCIA存储器、图形SGRAM、Apple模块、栈式集成电路存储器等。
4)错误信息显示测试仪错误信息是如何显示的，能否可以提供详尽的故障信息，是否可以与计算机通信，拓展测试仪的编程功能。
5)可编程性能测试仪能否可以编写SPD程序、设置程序、测试模式程序。
6)现场更新换代测试仪能否进行现场升级？其复杂程度如何'几乎所有小型测试仪均不可能升级到进行高速地DDR和ltambus存储器的测试。
存储器测试仪能对静态和动态MOS存储器进行比较严格的功能检查。当存储器电路出现故障时，能比较准确地进行故障定位，并显示出如下的故障信息：
①存储器的故障定位信息。
②所执行的测试程序段名称或程序段号。
③出错指令的地址。
④被测存储器的出错单元地址。
⑤正确操作数和错误操作数。
这时，操作人员可以按照输出的故障信息，更换有关存储器组件，调试修复机器。机床对于其他故障，如奇偶校验错、超时错、动态MOS荐储器刷新时限错等，还能输出故障类型，为诊断、修复存储器提供有效信息。机床它可以利用测试系统设置的6条命令，随时干预测试过程，灵活地安排测试内容和执行方式，以诊断和定位故障。
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