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数控机床静态测量法
日期：2014年01月20 来源：本站原创 关键字：数控机床静态测量法
数控机床的故障压缩到一定满围后，可通过万用表对有疑点的部件、模块或元器件进行静态测量。测量分两种，即测量静态电阻值和测量静态工作电压，前者在断电的情况下进行。对于明显适中、断路的故障、测量其电阻值就可判断出来。对于尚未短路或断路但与正常阻值偏差较大的测量点，可进一步测量其在通电情况下的静态电压。当电路板上的电源线对地的正反向电阻值过小或短路时，说明板子上可能有被击穿的芯片或电容、晶体管等分立元件。当怀疑某个集成电路芯片时，可测其输入、输出脚对地的正反向电阻值、其正向电阻在几十欧姆到100左右，反向电阻在几百欧姆到1000左右。如正向电阻值接近于0或反射电阻值为无穷大时，则此管脚已短路或开路。还有二极管、晶体管及大功率模块等都能用电阻测量法判断其是否损坏。
在静态电压测量时，可单独接上相应的工作电源，检查有疑点的元器件的工作点或逻辑功能。如测硅晶体管的基极和发射极之间的导通电压ube为0.6V左右，振荡电路中的晶体管在起振时其基极对地有一铡电压存在等。对于逻辑电路，可根据型号查有关手册上真值表，检查是否有违返真值表的状态存在。如遇到逻辑功能复杂或无真值表可查的芯片，如PAL、GAL电路时，可与好板子同一芯片的逻辑电平进行比较，如果差得太多就说明这个芯片可能有问题了。
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